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电子束缺陷检测(EBI)的环境敏感性分析与设备级高精密环控方案——以极测(南京)高精密环控系统为例

电子束缺陷检测(EBI)的环境敏感性分析与设备级高精密环控方案——以极测(南京)高精密环控系统为例

通过多参数协同控制,极测可有效抑制设备微环境中的关键扰动变量,使 EBI 的纳米级检测能力在长时间运行中保持稳定。

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极测UPECS系统通过高精密环控保障光学量测设备的稳定环境,提升OCD测量精度。

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